ASTM F43-1999 半导体材料电阻率的试验方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-29 08:45:33  浏览:8593   来源:标准资料网

【英文标准名称】:StandardTestMethodsforResistivityofSemiconductorMaterials
【原文标准名称】:半导体材料电阻率的试验方法
【标准号】:ASTMF43-1999
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:1999
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:F01.06
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:耐力;试验;半导体;材料;电子工程
【英文主题词】:germanium;resistivity;semiconductor;silicon
【摘要】:ThisstandardwastransferredtoSEMI(www.semi.org)May20031.1Theresistivityofasemiconductormaterialisanimportantmaterialsacceptancerequirement.Resistivitydeterminationsmadeduringdevicefabricationarealsowidelyusedforqu
【中国标准分类号】:H80
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:6P.;A4
【正文语种】: